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非接触式二维光谱测量系统
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非接触式二维光谱测量系统

可以对各种传统分光光度计无法测量的物体进行非接触式测量,包括多色彩、小尺寸、曲面、形状不规则、粉末等物体,实现精确客观地测量 应用:工业分选及缺陷检测\纺织色的测量\塑料制品\印刷品\涂料和油漆的测量
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可以对各种传统分光光度计无法测量的物体进行非接触式测量,包括多色彩、小尺寸、曲面、形状不规则、粉末等物体,实现精确客观地测量

应用:工业分选及缺陷检测\纺织色的测量\塑料制品\印刷品\涂料和油漆的测量

测量波长:400~1000nm软件可设置400~700nm
测量几何条件:45°:0°可自定义
非接触式测量距离:30~80cm可客制化距离
短期重复性:重复测量白板20次的色差不超过0.05
空间信道数:2400,每个像素对应实际样品测量尺寸<0.08mm / 800,每个像素对应实际样品测量尺寸<0.2mm
光谱分辨率:≤2nm / ~5nm两种型号选择
软件可输出关键的QC参数,包括二维反射率,CIELab值等
最高照度:~80000 lux两个光源到置物平台,若用四个最高照度翻倍

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